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查看: 2432|回复: 3

[求助] 【求助】扫描链中ScanEnable、ScanDataIn、ScanDataOut如何复用其他信号?

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发表于 2019-10-8 17:07:30 | 显示全部楼层 |阅读模式

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由于是测试芯片,管脚紧张,现在扫描链的SE、SI、SO信号都打算与其他信号复用。但是在DC中只找到了复用SI和SO,通过SE信号做为多路选择。现在问题是SE信号也需要复用。求助各位,应该如何设置脚本。或者是修改RTL?
发表于 2019-10-17 06:36:04 | 显示全部楼层
SE当然也是可以复用的,这个不是跟SI/SO一样设置吗?
但是注意,test mode要么是单独的pin,要么就是通过pattern产生,当test mode 有效时,复用的管脚就是SI/SE/SO。
 楼主| 发表于 2019-10-18 09:39:29 | 显示全部楼层


kk2009 发表于 2019-10-17 06:36
SE当然也是可以复用的,这个不是跟SI/SO一样设置吗?
但是注意,test mode要么是单独的pin,要么就是通过pa ...


感谢回复!具体情况是,我首先对整个SOC进行了扫描综合然后设置dont_touch,现在需要加PAD,但是PAD数量有限。然后在SOC层外部包了一层逻辑,主要是复用信号到PAD,扫描链相关的信号和其他信号通过work_mode【1:0】做为选择和其他端口复用一个PAD。问题是:现在产生测试激励不知道该怎么做,因为原来的扫描端口都指定在内部的SOC层了。
还有一种办法是,先不对SOC层做扫描综合,将SOC层和外面的复用逻辑一起综合。但是插入扫描链的话,有一个问题,如果通过work_mode【1:0】信号去复用扫描链相关的信号不知道该如何实现。具体的应该说是脚本上如何实现。目前只找到了通过SE信号去复用SI和SO。

发表于 2019-10-19 04:34:52 | 显示全部楼层
其实work_mode[1:0]就是我说的test mode。比如work_mode[1:0]为2‘b11时,做scan。
将decoder work_mode的信号定义为 test mode,其他的跟用SE信号去复用一样。
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