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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 数字系统测试和可测试性设计_（美）
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楼主: zylxzxcyz

[资料] 数字系统测试和可测试性设计_（美）

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xing1095
发表于 2021-6-22 16:17:11 | 显示全部楼层
太感谢了
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jacke_jacke
发表于 2021-6-24 21:23:07 | 显示全部楼层
非常感谢
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xiaoyue12
发表于 2021-7-6 16:51:41 | 显示全部楼层
看到推荐这本书，下载下来学习下。多谢
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月弥星空
发表于 2021-7-16 11:42:06 | 显示全部楼层
什么鬼东西  下载之后压缩不了  坑信元？
image.png
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fanyang08
发表于 2021-7-16 15:01:07 | 显示全部楼层
谢谢楼主的资料
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5ong
发表于 2021-7-18 11:34:28 | 显示全部楼层
感谢感谢
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hydroa
发表于 2021-7-31 21:56:09 | 显示全部楼层
还是谢谢
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hydroa
发表于 2021-7-31 22:17:36 | 显示全部楼层
重新下载了
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albert_eetop
发表于 2021-8-6 15:03:57 | 显示全部楼层
正需要。看看。
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发表于 2021-8-7 07:59:21 | 显示全部楼层
真是不错的资料，很是权威和专业，学习下
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