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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 数字系统测试和可测试性设计_（美）
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楼主: zylxzxcyz

[资料] 数字系统测试和可测试性设计_（美）

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jimcmwang
发表于 2020-2-15 12:00:45 | 显示全部楼层

数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 , 2015.06_P370.part6.rar
(3.49 MB, 下载次数: 121 )


数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 , 2015.06_P370.part5.rar
(15 MB, 下载次数: 182 )


数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 , 2015.06_P370.part4.rar
(15 MB, 下载次数: 166 )


数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 , 2015.06_P370.part3.rar
(15 MB, 下载次数: 190 )

数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 , 2015.06_P370.part2.rar
(15 MB, 下载次数: 185 )


数字系统测试和可测试性设计_（美）纳瓦比著 , 2015.06_P370.part1.rar
(15 MB, 下载次数: 212 )
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zhyu101
发表于 2020-2-22 15:40:26 | 显示全部楼层
感觉很高大上啊，看不太懂
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fat先生
发表于 2020-3-14 14:36:31 | 显示全部楼层
为什么下载后没法解压
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touby
发表于 2020-3-24 15:25:13 | 显示全部楼层
非常感谢
EETOP创芯人才网职位发布入口
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balam2017
发表于 2020-3-27 18:40:22 | 显示全部楼层

感谢感谢分享好书
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IvanKao
发表于 2020-4-8 16:43:09 | 显示全部楼层
Good to learn how to build a testable design.
Thanks,
EETOP创芯人才网职位发布入口
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martian618
发表于 2020-4-8 17:41:42 | 显示全部楼层
非常感谢！
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Ralphjh
发表于 2020-6-2 14:41:19 | 显示全部楼层
谢谢分享
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chaozhang
发表于 2020-6-4 22:37:22 | 显示全部楼层
谢谢大佬
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nokia70
发表于 2020-6-16 17:32:20 | 显示全部楼层
thanks
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