功能测试pattern 替代Scan测试，如何统计功能测试的覆盖率

dv_soc · 发表于 2019-5-10 17:19:33

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SoC插入Scan逻辑会增加面积，同时Scan测试需要测试费用，请教假如用功能测试pattern 替代Scan测试，应该如何统计在功能测试的芯片的Toggle覆盖率？这样的替代方案是否可行？

ibrotherv1 · 发表于 2019-5-11 21:34:17

使用Z01X

dv_soc · 发表于 2019-5-13 13:39:22

ibrotherv1 发表于 2019-5-11 21:34
使用Z01X

Z01X 现在用的公司多吗？有相关的资料没？

elone · 发表于 2019-5-14 17:18:18

用仿真工具看下coverage? 这样的cover与真正的测试覆盖率还是大不同

bounty5254 · 发表于 2019-5-16 16:39:31

先釐清這些functional pattern真的是用來測scan mode下測不到的地方嗎?
如果不是，是否在design階段DRC沒有清乾淨而造成
如果是scan階段就沒有清乾淨這些東西而造成coverage不足而要用這些functional pattern補

這就大大的本末倒置了

elone · 发表于 2019-5-17 09:03:38

bounty5254 发表于 2019-5-16 16:39
先釐清這些functional pattern真的是用來測scan mode下測不到的地方嗎?
如果不是，是否在design階段DRC沒有 ...

有些为成本考虑, 有些为安全考虑, 有的芯片是不加SCANCHAIN的. 只能用function pattern去测试

bounty5254 · 发表于 2019-5-17 09:46:07

elone 发表于 2019-5-17 09:03
有些为成本考虑, 有些为安全考虑, 有的芯片是不加SCANCHAIN的. 只能用function pattern去测试
...

如果是這類考量下的測試 OK
因為實際上我看到的是蠻多R&D搞不清楚狀況
做DFT時DRC檢查不嚴謹導致我所提到的狀況

elone · 发表于 2019-5-17 09:51:58

bounty5254 发表于 2019-5-17 09:46
如果是這類考量下的測試 OK
因為實際上我看到的是蠻多R&D搞不清楚狀況
做DFT時DRC檢查不嚴謹導致我所提到 ...

如果是设计时就没考虑好DFT, 那再用Function Pattern去补那可能效果也不会好了

bounty5254 · 发表于 2019-5-17 11:21:17

本帖最后由 bounty5254 于 2019-5-17 11:23 编辑

elone 发表于 2019-5-17 09:51
如果是设计时就没考虑好DFT, 那再用Function Pattern去补那可能效果也不会好了
...

的確是

functional pattern無法確保fault propagation這件事
所以pattern打進去能不能傳到output觀察也是一回事

所以在產品前期的DRC 把關就很重要跟design quality息息相關

总在阳光下发呆 · 发表于 2019-5-23 19:55:25

function pattern没有明显针对的失效类型，当然无法评估。

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