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[讨论] S型U型倒比管

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发表于 2018-12-29 09:49:15 | 显示全部楼层 |阅读模式

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gate在有源区注入之前已经形成,由于自对准,有源区在注入时gate下面的有源区会被阻挡掉,如左边的S型倒比管中只会形成源漏区域的有源区,我觉得这个S型倒比管的沟道等效于右边的MOS管沟道,但是看很多S型倒比管的资料,它的有效沟道长度L都是以gate覆盖下的S型有源区长度来算的,有没有大神解释一下 S型倒比管.png
发表于 2018-12-29 10:35:40 | 显示全部楼层
请问在什么条件下会用到上面两种类型的管子呢?
我是做射频版图的,完全没见过这种管子。
谢谢
 楼主| 发表于 2018-12-29 11:16:57 | 显示全部楼层
回复 2# tjjsjin


   只有左边一种管子,右边的是我觉得可以等效左边的一种管子,倒比管L/W>1(有时候会画成S型U型,图中左边的是S型,U型没有画出来),一般BG等模块都有用到
发表于 2018-12-29 11:17:39 | 显示全部楼层
你好,
(先说前提,你给了layout,没给层次说明,我推断蓝色是有源区,红色是poly,这个推断若错误,以下便都是废话,请无视)
你有两处概念没有理解清楚:
1,没有理解“有源区”和“注入”的概念。
——你提到:“有源区会被阻挡掉”,“只会形成源漏区域的有源区”——说明你混淆了有源区和注入,请复习下工艺流程,以下简单提一提。
以NMOS为例,NMOS需要做在P型区域上,比如p-sub,pwell等。
P型区域上会存在厚厚的场氧化层,这层太厚了,注入穿不过去的;把场氧化层挖掉一小块,这一小块就是有源区,也叫槽区”moat“,也叫”薄氧“,也叫……,还有很多种别称,此处不作展开。有源区上生长薄薄的栅氧化层。栅氧化层上淀积多晶硅以形成栅极,栅极两测注入N型杂质,形成NMOS的源漏区。
2,没有理解“沟道”和“反型”的概念。
“沟道”是因为“反型”而产生的。
gate-poly下阻挡了N型注入,所以仍然是P型区域,即衬底B,bulk or body,他是P型的;
源漏区是N型注入;栅极gate-poly和Bulk之间加电压,达到阈值,P型 bulk反型,形成N型电子沟道,与源漏之间的N型注入形成电连接,沟道导通。源漏之间的电子的漂移路径,才是沟道长度。沟道只在gate-poly下才存在,所以沟道长度是S型poly的长度。
发表于 2018-12-29 11:34:31 | 显示全部楼层
沟通怎么形成的基本概念你没搞清楚
 楼主| 发表于 2018-12-29 14:52:39 | 显示全部楼层
回复 5# poly_lq


   一般的NMOS管gate下方还是P型衬底(有大量的空穴),源漏是N+(有大量的电子),gate加正压导致gate下方的衬底聚集电子形成反型层,源漏如果有压差,电子就会通过反型所形成的区域,源漏导通,源漏两端之间的反型层长度就是沟道长度,这是我的理解。
   也就是说gate下方的有源区是没有作用的,在S型倒比管中也一样,所以我就觉得图中左边的S型倒比管是等效于右边的MOS管的,而好多资料中S型倒比管的沟道长度是以gate下方的S型有源区来算的,这是我的疑惑。

    理解有误请指正!!!!
 楼主| 发表于 2018-12-29 15:25:47 | 显示全部楼层
还是说在工艺中 和有源区重合部分的gate 与 其他的gate生成的时候有什么不同,导致S型倒比管是以S型有源区的形状形成沟道的呢
发表于 2018-12-29 16:10:51 | 显示全部楼层
poly不等于gate啊
 楼主| 发表于 2018-12-29 16:32:50 | 显示全部楼层
回复 8# poly_lq


   刚找了一下工艺方面的书,现在明白了
发表于 2018-12-29 19:15:13 | 显示全部楼层
红色为有源区,蓝色为gate,有源区上形成栅氧再淀积多晶硅能形成导电沟道,有源区之外的区域是厚的氧化层,为场氧,上面有gate也不会形成导电沟道。所以电流是沿着S型区域流通的。
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