设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 设计讨论 › 《已解决》ADI有一份讲AD和DA全芯片指标测试的资料，很 ...
返回列表 发新帖
查看: 1823|回复: 2

[求助] 《已解决》ADI有一份讲AD和DA全芯片指标测试的资料，很详细的，叫啥？

[复制链接]
fcm5658779
发表于 2018-12-10 11:48:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？注册

x
本帖最后由 fcm5658779 于 2018-12-10 15:01 编辑

今天项目组开会听老大说ADI有一份材料讲AD和DA的全芯片指标测试的资料，叫什么ADI DATA converter XXX（好像是end look）坐太后面没听清，说是行业内很有名，很实用。请问有人知道是指哪一份资料么？芯片流片要回来了要测试，现在挺急的。
回复

举报

ywic
发表于 2018-12-10 14:42:02 | 显示全部楼层
你应该说的是“Data Conversion Handbook”
ADI官网能找到，论坛也有很多关于这本书的资料

下面这一章节应该就是你要的吧
Chapter 5 Testing Converters F.pdf (3.06 MB, 下载次数: 36 )
回复 支持 反对

举报

fcm5658779
 楼主| 发表于 2018-12-10 15:00:12 | 显示全部楼层
回复 2# ywic


   找到了。谢谢~~~~~~~~~~
回复 支持 反对

举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-21 23:40 , Processed in 0.014982 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表