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楼主: zhukh

High Performance Memory Testing

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发表于 2019-4-3 00:51:39 | 显示全部楼层
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling, and Self-test Frontiers in Electronic Testing  作者： Adams, R. Dean. 出版：Boston Kluwer Academic Publishers, 2003.
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发表于 2023-8-7 17:51:53 | 显示全部楼层
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling, and Self-test
Frontiers in Electronic Testing
作者： Adams, R. Dean.
出版：Boston Kluwer Academic Publishers, 2003.
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