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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC产品的质量与可靠性测试
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楼主: alexchiang

IC产品的质量与可靠性测试

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mayanzhao
发表于 2009-2-17 09:45:12 | 显示全部楼层
谢谢楼主了。。。
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lzg
发表于 2009-2-19 10:46:18 | 显示全部楼层
thanks~~~
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wangjm
发表于 2009-3-1 16:21:45 | 显示全部楼层
thank you
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shuge
发表于 2009-3-6 13:16:12 | 显示全部楼层
这个也要顶一下
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jeahen
发表于 2009-3-6 14:30:15 | 显示全部楼层
不错，感谢楼主。
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84059200
发表于 2009-3-7 17:32:50 | 显示全部楼层
顶一下。楼主辛苦了
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andy_didi
发表于 2009-3-18 22:34:50 | 显示全部楼层

介绍了各种测试方法，很好的资料

介绍了各种测试方法，很好的资料
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ralfred
发表于 2009-3-19 10:40:47 | 显示全部楼层
好东东！see 下
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id_dao
发表于 2009-4-4 18:13:12 | 显示全部楼层
thanks; search it for a long time.
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ericchen228
发表于 2009-4-6 17:37:56 | 显示全部楼层
Ding!
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