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EETOP诚邀模拟IC相关培训讲师 创芯人才网--重磅上线啦!
查看: 2445|回复: 2

[求助] 车充高压测试烧毁芯片问题

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发表于 2018-7-19 10:33:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

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如图,正常测试,输入电源通过红线和地接在一起,负载仪直接接到VOUT+和VOUT-之间,Rsen是采样电阻,24V触碰上电正常;

现在客户为了测试方便,直接把输入电源的地和负载的地接到一起,同时接到VOUT-,24V触碰上电,每次触碰几次就把芯片给烧坏了,这个有可能是什么原因??

发表于 2018-7-20 16:01:50 | 显示全部楼层
回复 1# silverpuma


   QQ : 2770562374
发表于 2018-7-29 21:44:09 | 显示全部楼层




    cs (current sense)  应该就没作用吧
  测试烧毁
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