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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › DFT小讲座之7_ATE测试扫盲
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楼主: DFT_Elite

[原创] DFT小讲座之7_ATE测试扫盲

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1016958509
发表于 2022-10-12 20:21:13 | 显示全部楼层


rick666 发表于 2022-10-9 11:04
cp 那一块还有docking、 tower


你好，你说CP的docking、Tower是指探针台的差别？

封装好之后的docking和Tower又是指的机械手的运转方式了；
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matlab5000
发表于 2022-10-16 07:53:11 | 显示全部楼层
内容太简单了
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shanelaw
发表于 2022-11-1 13:52:08 | 显示全部楼层
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cliff123
发表于 2022-11-2 17:33:18 | 显示全部楼层
学习了
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hadeheng
发表于 2022-12-7 15:36:59 | 显示全部楼层
好文
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cmmjava
发表于 2023-7-14 02:04:37 | 显示全部楼层
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cmmjava
发表于 2023-8-7 00:23:46 | 显示全部楼层
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陈haha陈
发表于 2024-10-8 17:59:07 | 显示全部楼层
好文章
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