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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › DFT小讲座之3_SCAN Chain基础
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楼主: DFT_Elite

[原创] DFT小讲座之3_SCAN Chain基础

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huolangdeng
发表于 2019-7-24 22:41:06 | 显示全部楼层
多谢分享
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江湖人92
发表于 2019-8-8 09:57:18 | 显示全部楼层
深度好文
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idealgao
发表于 2019-9-16 14:27:06 | 显示全部楼层
thanks,
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mess12345
发表于 2019-11-13 16:47:56 | 显示全部楼层
支持
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发表于 2019-12-10 10:27:10 | 显示全部楼层
多谢分享 很有用 学习到了
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夏尔
发表于 2019-12-23 13:57:00 | 显示全部楼层
点赞点赞
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wk99399
发表于 2020-2-11 11:33:09 | 显示全部楼层
非常适合入门科普
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sunbaby3436
发表于 2020-5-14 07:16:24 | 显示全部楼层
SCAN/ATPG Test虽然听上去很基础，但从DFT/ATE的角度来说，“性价比”最高。
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asdle5050
发表于 2020-12-11 11:11:57 | 显示全部楼层
写的很好，很受用
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jack570321
发表于 2020-12-27 13:09:06 | 显示全部楼层
Thank you very much!
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