DFT小讲座之3_SCAN Chain基础

anlizan · 发表于 2019-4-8 11:20:23

先马再看

aaron_shiu · 发表于 2019-6-18 12:36:34

太棒了這個真好用

tu32 · 发表于 2019-6-18 18:41:59

thanks

小坤坤帅 · 发表于 2019-6-24 14:26:29

请教一下，多电源域的scan如何生成呢？

milan2207 · 发表于 2019-6-26 14:02:45

写的很好，感谢。

追求前方 · 发表于 2019-7-13 16:42:50

您好，在SE信号拉低之后，即芯片处于捕获模式时，此时的时钟信号是否会发生变化？还是说一直都使用同一时钟？最近一直都很困惑这个问题，如果您知道的话，还望解答一下，谢谢。

milan2207 · 发表于 2019-7-15 11:24:03

追求前方发表于 2019-7-13 16:42
您好，在SE信号拉低之后，即芯片处于捕获模式时，此时的时钟信号是否会发生变化？还是说一直都使用同一时钟 ...

我理解是时钟没有变化，只是会用一个cycle捕获状态，然后还是用同样的时钟将结果一级一级移除寄存器

追求前方 · 发表于 2019-7-15 21:50:22

milan2207 发表于 2019-7-15 11:24
我理解是时钟没有变化，只是会用一个cycle捕获状态，然后还是用同样的时钟将结果一级一级移除寄存器
...

谢谢，后面我又看了一下，感觉应该和您说的一样。我的理解是扫描链测试中应该是用test_mode信号进行功能模式和测试模式的切换以及时钟的切换，利用SE信号进行移入操作和捕获操作的切换。不知道这么理解是不是和实际情况符合。

milan2207 · 发表于 2019-7-16 16:14:42

追求前方发表于 2019-7-15 21:50
谢谢，后面我又看了一下，感觉应该和您说的一样。我的理解是扫描链测试中应该是用test_mode信号进行功能 ...

我理解是这样。

bagshtag · 发表于 2019-7-16 19:28:20

helpful article!!!

[原创] DFT小讲座之3_SCAN Chain基础