bitcell写入性能怎么测

xw406992972 · 发表于 2018-5-9 09:18:57

本帖最后由 xw406992972 于 2018-5-9 15:21 编辑

用Cadence 的spectre对一个标准的六管bitcell写入数据，电路图如下所示。文档里提到测试时，模拟实际工作情况，向BIT CELL 中写入数据，观察ST1点，测试电路的写入性能。

TIM截图20180508162039.png

目前我能根据RF的工作情况，仿出来相应的波形，我先把数据高电平送到wbl端口，然后将wbl在某个时间点拉高，观察到st1点的点位也逐渐拉高了，可是仿出波形之后如何看写入时间？Spectre有没有提供相应的测量方法，网上有提到用calculator来算，可我不是很会用，有没有大神知道的提点一下。万分感谢！

xw406992972 · 发表于 2018-5-9 15:22:22

自己先顶一个，拜托各位了。

xw406992972 · 发表于 2018-5-11 09:49:54

有没有大神知道Spectre里面怎么测波形的时间啊，有没有尺子一样的工具？

xw406992972 · 发表于 2018-5-21 08:56:50

没人回答。自己答一下把。用spectre里的计算器，delay函数就可以计算时间差。也可以在运行仿真的时候用debug模式，而不用bath模式，debug模式是有标尺的。

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