tmax跑出来的pattern在实际芯片上失效

wsmysyn

yutou95 发表于 2019-10-22 09:16
是的，但是有时候fail point不是很固定，不同的芯片之间有几个cyc的差异。
这时候做Pattern mask就会比较 ...

你用的是什么ATE平台

我们调试的时候也有这个现象，我们93k平台，出错点算是比较稳定的，多测了一些die，然后把出错的位置mask掉。

然后测整片wafer，scan大概2-3%的fail比例，但是release到实际工厂的时候，fail比例更低了，
分析原因的话，一个是可能接触更好了。二是可能生产环境比实验室验更严格一些了。洁净度更高; 和其他平台比，docking的方式信号线更短，信号质量要好

在其他平台也调试过scan的pattern，使用和93k一样的pattern，那个平台就出错更多。而且也更不稳定。主要是ATE是排线的链接方式，信号路径更长了，质量差了些。
单纯降低频率没什么效果，

yutou95

wsmysyn 发表于 2019-10-22 10:10
你用的是什么ATE平台

我们调试的时候也有这个现象，我们93k平台，出错点算是比较稳定的，多测了一些die ...

试过chroma的测试平台，不同测试平台的差异这个倒是没有对比过，

但是如果要换平台的话，针卡那些不是要重新做吗？

wsmysyn

yutou95 发表于 2019-10-22 14:29
试过chroma的测试平台，不同测试平台的差异这个倒是没有对比过，

但是如果要换平台的话，针卡那些不是要 ...

chroma3360/3380平台么？ 也是用排线的方式连接的那种？

我们ft就选了这个平台，主要是性价比比较高，93k测ft有点奢侈了。site数在那里摆着呢，93k配置再多，最高也8site，但是8site的机台大陆少之又少。。还是4site跑。

chroma3380d上边调试scan就有这个问题，scan shift部分问题不大，就是后面带计算的那种会出错，大概360多万行，1000条链，
大概几百个，mask掉了一些，还是会出来很多;排线的这种方式会比较难调，频率，rising edge，falling edge Strobe可能需要多试一试;即便是用短一点的排线，也不一定能完全解决

频率太低scan pattern要跑很长时间，10M 的rate排线方式已经是极限了，如果是V50的那种cable的话质量比排线的要好点。
我用过5M和2M还是不稳定，同时跑pattern时间要好几秒，太不划算了
因为我们cp可以测到，所以暂时放弃了，当时打算如果不做cp的话，在ft也可以测到scan。测试机资源引出方式确实很重要，

换平台，针卡肯定要重做了，不同平台也不兼容，就算是用转接板来搞，可能也很麻烦。看成本多高了。。不管什么平台docking的方式测CP是比较好的，，其他的方式，高速信号真的是一个头疼的事情。。

LCS527

yutou95 发表于 2019-10-22 09:16
是的，但是有时候fail point不是很固定，不同的芯片之间有几个cyc的差异。
这时候做Pattern mask就会比较 ...

请问怎么做pattern mask，具体命令是什么？

yutou95

wsmysyn 发表于 2019-10-22 15:03
chroma3360/3380平台么？ 也是用排线的方式连接的那种？

我们ft就选了这个平台，主要是性价比比较高，93 ...

比较疑惑的是，如果说是因为信号质量的问题的话，为啥每次chain test都是可以过的...

yutou95

LCS527 发表于 2019-10-22 15:07
请问怎么做pattern mask，具体命令是什么？

手改或者写脚本吧

wsmysyn

yutou95 发表于 2019-10-22 15:50
比较疑惑的是，如果说是因为信号质量的问题的话，为啥每次chain test都是可以过的...
...

我看shift的部分一般都是规律的，比如方波，0101交替，有的是00110011这样交替，一般这块不会错，到了计算部分，一般就没什么太大规律，01跳变的很多

感觉可能是排线通道间有串扰，也可以尝试在通道上串个10-20ohm、这样的小电阻看看，

wsmysyn

LCS527 发表于 2019-10-22 15:07
请问怎么做pattern mask，具体命令是什么？

一、数量比较少，可以手动改一下pattern。

二、fail比较多的话，chroma pattern debug的工具有read pattern memory，就是把测试机capture的pattern读到pc，在工具界面可以点击高亮fail点，然后有一个按钮可以选择把Fail的都转为X，或者或者相反，有几个选项。。最后可以把修改好的pattern写回原始pattern fail，这就更新好了

三、有一些测试机可能带learning 模式，学习一下pattern。。没有这类功能的，错误太多的，就找出pattern的人重出吧。出错少的，几百个点，对于几百万甚至上千万行来说，脚本改吧

wsmysyn

yutou95 发表于 2019-10-22 15:50
比较疑惑的是，如果说是因为信号质量的问题的话，为啥每次chain test都是可以过的...
...

我们做了两个pattern，一个scan 1000条链，一个memory bist pattern，scan的不稳定，mbist的用10M rate测试也很稳定，loop 100次都pass，，mbist的仿真波形我看过，主要是01变化的相对scan少了很多，也短很多，中间只compare几百个字节rom的value，其余drive/compare都是电平信号，

LCS527

wsmysyn 发表于 2019-10-22 16:20
一、数量比较少，可以手动改一下pattern。

二、fail比较多的话，chroma pattern debug的工具有read patt ...

谢谢回复！