tmax跑出来的pattern在实际芯片上失效

liqiang998

yutou95 发表于 2018-3-23 11:27
回复 8# ustc12

楼主，请问你的问题找到原因了吗？
之前我也遇到了类似问题，设计上没有找到原因，后来用func pattern代替了

小坤坤帅

这个最终是怎么解决的啊？我很好奇，这个func pattern时是否有问题啊？

rcliu1975

跑serial

柠檬加丙

会不会是power 上的问题呢？可不可以做一下diagnosis 去找一下fail point？

soc2012

只跑chain test 可以过吗？   同一个片子  多测几次  每次的fail cycle相同吗？

wsmysyn

之前在跑dft pattern的时候，也会遇到这样的问题，可能到有300-500个fail point，但是比较固定，一般做法就是mask掉

fail piont的位置不固定的话，有可能是测试机的信号线差异，或者过长导致的。比如输入的时候可能就错了，shift出来基本上就错了。

这种情况，确实很难调试，选对合适平台比较重要。

wsmysyn

eda—wdy 发表于 2018-3-22 17:08
回复 8# ustc12

ATE设备上基本都会提供这个功能

就是类似于参数扫描，遍历等
有一维shmoo，二维shmoo

一维就是一个参数变，比如电压固定，在一定范围扫描工作频率，测电流，达到一个随工作频率变化的功耗值
二维就是2个参数变，

eda—wdy

wsmysyn 发表于 2019-10-14 10:57
ATE设备上基本都会提供这个功能

就是类似于参数扫描，遍历等

谢谢  问题已经解决了

yutou95

soc2012 发表于 2019-10-12 09:29
只跑chain test 可以过吗？   同一个片子  多测几次  每次的fail cycle相同吗？

只跑chain test 能过，
同一个片子出来的错误基本是一致的，偶尔一两个cyc不一致
不同片子的错误也是大部分一致的。

yutou95

wsmysyn 发表于 2019-10-14 10:50
之前在跑dft pattern的时候，也会遇到这样的问题，可能到有300-500个fail point，但是比较固定，一般做法就 ...

是的，但是有时候fail point不是很固定，不同的芯片之间有几个cyc的差异。
这时候做Pattern mask就会比较困难。
想知道为什么会出现这样的错误呢？有时候用网表后仿跑parallel都是能pass的，实际上芯片就是会失效。