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本帖最后由 shenzhenxinyuan 于 2018-1-20 11:23 编辑
各位:
小弟最近流片一个PIPELINE ADC的新品,设计目标是24M,10bit使用的是传统的架构,每级1.5bit,最后一级是2位flash架构,总共9级,加了个一个采样保持电路,也是开关电容的架构,前仿真和后仿真ENOB>9.5bit(fin:100k-11Mhz),芯片测试回来之后的问题是:ENOB随输入频率下降很快,测试考虑输入频率与采样频率互质,以及采样点数位4096,采样频率30M,adc时钟考虑了jitter的影响,测试时使用的是24M的晶振产生的,jitter几乎可以忽略,测试也是非常小。
100K附近:ENOB=9bit, 1M附近:ENOB=8.9bit, 2M附近:ENOB=8.7bit, 3M附近:ENOB=8.5bit, 5M附近:ENOB=8.2bit, 8M附近:ENOB=8.1bit, 10M附近:ENOB=8bit, 测试的架构如下图,左边是用了一个单端转差分的电路,右边是ADC,大家帮忙看看,问题出在哪里了? VIN使用的是泰克的信号源,50Ω的阻抗匹配考虑了,VCM是ADC的参考电压,外面加了大的滤波电容的。 电源是LDO供电的,纹波在20mV 电源电压是:3.3v,共模电压1.65v,输入量程是2Vpp,采样电容是0.4pF
ADC测试系统图
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