在at-speed测试时，对于频率较低occ drive的scan chain，有哪些方法做masking

hezelz08

想讨论的问题具体描述如下：
1）设计中有OCC模块，因为是采用Mentor公司的ATPG工具和occ方案，所以要求设计中所有的在chain上的flip-flop cell在scan mode下的test clock都要来自occ之后的；
2）设计中高频时钟域插入OCC，为了满足1），对于其他的低频时钟域也同样做了OCC处理；
3）在跑ATPG时(at-speed，transition fault)，对于低频时钟域跑transition fault没有意义(Mentor和foundary也会是这种建议)，所以需要mask掉所有的低频时钟域的测试；

问题是有哪些方法可以完成这个目的？

本人的做法是，在跑ATPG产生pattern时，通过clock control description的定义，disable掉所有低频时钟域的capture动作，只保留高频始终域的，而在pattern simulation时，testbech中需要将低频时钟域的时钟固定到0(不产生低频时钟)。

另外，看那文档，还有一种做法是通过命令add_chain_masks，找到低频时钟域的所有scan chain，做mask。

不知道以上做法是否可行，中间是否存在其他问题呢，有没有其他的做法？

ustc12

可以按照clock domain加故障点，add_faults -clock_domain fastclk1 fastclk2 ...

hezelz08

或者用NCPs(Named Capture Procedure)，只care 高频clock domains

xhf811

低频时钟域不要加OCC了吧

zkalexzk

delete_fault  -clock_domain就可以了

wangzhiyong012

回复 1# hezelz08

add faults -capture_procedure all

huyz0202

低频时钟不用做OCC，occ应该也可以出来一个slow test clock，低时钟的clock就和这个slow test clock做mux，在产生transition pattern时，只需要加快时钟之间的这些fault既可。

hezelz08

回复 6# wangzhiyong012
当然，对于低频时钟是不会做transition faults的，也就不需要做OCC了。我不知道你是否也是用的Mentor的ATPG工具，因为他们家工具是有这个要求的(在做transition时，有个P94的rule check，如果发现有chain上的scan cell的test clock不是来自OCC之后的话就会报，当然可以将其设为Warning继续跑，但会导致coverage掉很多)，我知道有些公司，他们会单独做一个低频的OCC，然后将所有低频clock在AC模式下都切到这个低频OCC上，你说的是这个意思？

hezelz08

回复 4# xhf811
看用谁家的工具，如果是Synopsys的就不要，如果是Mentor的就会要求你做(如果你选择clock control的方式的话，如果你用NCP方式就不要对低频clock做OCC)，反正工具有这个要求，可以不测。你是用什么方式的？

Kingwhale

mark 学习