芯片openface测试会漏电，但是点黑胶后漏电消除

vlearner · 发表于 2017-11-16 11:04:56

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目前设计的一款CMOS芯片，功能主要是提供电压偏置和逻辑模式控制，实验室组装的openface打线测试从电源端会有漏电，漏电现象是首先降到0.8uA过个1-2秒后逐渐增大并稳定到500-600uA，但是通过点胶或封装片测试并没有漏电，也即降到0.8uA后再也没有增大的趋势。点黑胶的位置是在CMOS die上，并没有触碰到PAD和绑线。测试多颗现象可重复。实验现象感觉不好解释。漏电突然逐渐变大并稳定，感觉是电路内部有RC充放电节点，检查电路有发现有一些电路节点存在浮空态，但是不至于很慢的稳定。而且芯片顶层有绝缘层，应该也挺厚的，外界寄生电容应该很小。点黑胶能改变什么呢？压力，介电常数？
望大神指导分析，或提供实验的建议。谢谢！

vlearner · 发表于 2017-11-16 16:36:13

顶一下

gaojun927 · 发表于 2017-11-25 17:08:53

光线影响？

vlearner · 发表于 2017-11-27 10:16:20

回复 3# gaojun927

嗯嗯，是这样的，openface片子遮光也不会有漏电。感觉光导致生电了，这个怎么解？

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