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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › PCB级测试的问题
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查看: 1496|回复: 2

[求助] PCB级测试的问题

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lk534795299
发表于 2017-11-1 10:42:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在JEP150测试标准里面有提到HAST和高温存储测试在PCB级基本不测，“but optional for Readout Ease”，哪位大大知道这个READOUT EASE是指什么？
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lk534795299
 楼主| 发表于 2017-11-1 11:05:50 | 显示全部楼层
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lk534795299
 楼主| 发表于 2017-11-2 16:58:53 | 显示全部楼层
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