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[讨论] GGNMOS P barrier 为什么能提高ESD能力!

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发表于 2016-8-9 15:46:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

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1.png
RT,小弟最近在用某工艺40V平台,发现其有个参数是P barrier的距离,P-bar越大,ESD能力越强,不太明白其作用,希望各位指点一二,欢迎讨论。
另外,小弟电路里面唯一用的40V器件是一颗耗尽型LDMOS,尺寸为200*40/4u,面积很大,觉得这个端口可以不用做ESD,请问如何来评估?
发表于 2016-8-9 20:53:49 | 显示全部楼层
本帖最后由 math123 于 2016-8-9 21:13 编辑

见过一次20V ISO LDNMOS不用ESD,宽度105mm,VGS=10V的1um旧工艺。
5V标准工艺见过的不用ESD的NMOS尺寸是15mm/0.5um
 楼主| 发表于 2016-8-10 10:11:08 | 显示全部楼层
回复 2# math123


    15mm,好大。。不知道这个您是怎么评估后得出不用做ESD呢,感谢
发表于 2016-8-10 11:25:58 | 显示全部楼层
本帖最后由 math123 于 2016-8-10 11:32 编辑

回复 3# 追风的孩子

这是常压DC-DC的常用尺寸,例如NMOS 15m + PMOS 35m,高压的LDNMOS估计面积要求会更大,要做好风险评估

mos.jpg
发表于 2016-8-11 10:50:05 | 显示全部楼层
加入Pburry后,电场由以前的单一的横向电场变为横向和纵向电场共同作用。
1、削弱了表面电场
2、增加了纵向的击穿区域,增大了电流通路

最不好的就是单纯的表面横向的击穿,电场太集中,击穿薄弱,抗电流能力差。
你可以用一个器件仿真,看看有埋层和没有埋层的情况最大电场和击穿电流的通路就了然了。
 楼主| 发表于 2016-8-13 10:49:09 | 显示全部楼层
回复 5# cfhai


    您说的是有无pbarrier是Resurf效果是吧?但是图中这个pbar是两个pbarrier的距离,拉大是增加了Resurf的效果吗?我去查一下?感谢您
 楼主| 发表于 2016-8-13 11:34:30 | 显示全部楼层
回复 4# math123


    就是不知道怎么评估风险啊,,求指导个思路。
发表于 2016-8-21 12:17:04 | 显示全部楼层
本帖最后由 math123 于 2016-8-21 12:18 编辑

回复 7# 追风的孩子

个人觉得200*40/4u的面积太小了,有很大的风险,因为LDMOS的ESD一向是难点,面积需求比普通MOS大很多
发表于 2016-8-21 16:53:24 | 显示全部楼层
没有太精确的方法来评估,你可以做TLP仿真,看实际的峰值电压/电流有多少,然后根据经验来评估。
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