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本帖最后由 odcstc 于 2016-7-7 14:19 编辑
SOC 设计中应该如何考虑DFT
E课网提供了专业的DFT实训课程，http://www.eecourse.com/course/109
活动内容：点击上面链接，并晒朋友圈，积累28个赞，可优惠200元。
讲师介绍： 曾就职 mentor， 多家外企，民企。 10年深耕DFT领域。 课程介绍
随着芯片规模的增加，如何以经济有效的方式测试IC,并且获得较高的测试品质,始终是摆在设计公司面前的一个非常重要的课题.DFT(可测性设计)就是一种系统化且高效率的解决此类问题的方法。DFT实训课程会涵盖现有常用的DFT方法，包括扫描合成(Scan synthesis),内建自我测试(BIST),自动测试向量产生(automatic test pattern generation),及错误模型(fault simulation)等各个方面的内容.课程依托百万门级的SOC项目，系统介绍了在实际项目中，在现有资源情况下如何考虑所面临的问题，并最终采取有效的方法解决测试品质及测试成本等问题。课程从问题出发，深入探讨了解决问题的方法及在解决问题的过程中可能遇到的各类问题，最终帮助学员成为一名合格的DFT工程师。
课程大纲
1、DFT简介 (3学时) - DFT所解决的问题
- DFT在芯片设计流程中的作用
- DFT概念常用方法介绍
- 主流DFT EDA工具介绍
2、SOC项目介绍 (5学时) - 项目DFT架构
- 如何选择合适的DFT solution
- 项目中的DFT实现
3、Scan synthesis (6学时) - Scan 概念及方法介绍
- Scan实现及各种常见问题的解决方法
- Scan DRC violation介绍及解决方法
- 项目实践及问题解决
4、ATPG (12学时) - 概念介绍
- Fault models
- Fault simulation
- ATPG DRC violation的解决方法
- ATPG pattern generation
- 测试压缩概念及方法
- ATPG pattern 验证
- 项目实践及问题解决
5、JTAG/1500 (6学时) - 概念方法介绍
- JTAG及其扩展应用
- JTAG实现及验证
- 项目实践及问题解决
6、BIST/MBIST(8学时) - 概念方法介绍
- Memory类型介绍及其BIST solution
- MBIST 算法介绍
- MBIST 验证
- 项目实践及问题解决
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发表于 2016-7-7 08:38:20
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