IC ESD失效分析分析未发现异常决不等于无失效

wonringking · 发表于 2022-3-28 21:05:40

做SEM时候如何给IC加电？谢谢。

空之晟 · 发表于 2022-8-13 10:31:12

wonringking 发表于 2022-3-28 21:05
做SEM时候如何给IC加电？谢谢。

SEM是观察芯片外表面的类似于光学显微镜观察是不需要加电的

wonringking · 发表于 2022-9-16 23:48:42

空之晟发表于 2022-8-13 10:31
SEM是观察芯片外表面的类似于光学显微镜观察是不需要加电的

谢谢

涯之角 · 发表于 2024-8-11 01:20:26

wonringking 发表于 2022-3-28 21:05
做SEM时候如何给IC加电？谢谢。

不需要额外加电，可以在将样品直接放进去使用低电压观察就可以了，不镀pt，低电压降低荷电，应该可以实现这种图像

zikelee · 发表于 2024-8-13 10:55:06

LCJ862084274 发表于 2020-5-11 11:35
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应该是上电同时使用电镜观察，观察亮点变化，应该能够确定latchup发生点，但起始电流小的话，不一定观察的到电流变化的电路。

[讨论] IC ESD失效分析分析未发现异常决不等于无失效