为什么有一条scan_chain在上机测试的时候总会出错

fleeflower

如题，本人刚接触关于tetramax 及atpg相关内容，也是接手前人的工作。现在发现产生的scan_chain中有一条链（总共有6条链）上机测试的时候总是会有几个cycle的error。     经过多次测试，发现错误的总是其中固定的一条链，但每次产生的pattern数目是不一定的（但少数目pattern的内容与多数目pattern前一部分的内容一致），测试错误的情况也不相同。
     因为是调试性质，所以是随机选部分芯片来做调试（3颗），出错的情况是一样的，由此基本确定不是芯片的问题，而是pattern或者操作导致的问题。
     接下来就毫无头绪了，不知道有哪位测试的大牛能指点一下大致是哪里的问题，谢谢。

J7889

用internal mode的pattern 找到有问题的FF，mask掉，重新生pattern

fleeflower

回复 2# J7889

可以详细描述下吗，不好意思小弟刚入门比较小白，不知internal mode的pattern指哪个，所以也不清楚是哪个ff出的问题。十分感谢

J7889

回复 3# fleeflower


    你用的是tetramax还是testkompress，对应的是internal mode，和bypass mode，就是长链模式。用这个模式来debug，从机台反馈的log来根据cycle数定位是哪条chain上的哪个FF，或者问问你们TE能不能直接定位。根据选定的FF，在生pattern时，mask掉它的q端，意思就是输出X，不管怎么比对，都能过。

fleeflower

回复 4# J7889

    非常感谢！    我用的tetramax，现在通过ate那边反馈回来的文件确实可以定位每个错误cycle对应的寄存器，不过目前看起来比较多，每一个都bypass也不太现实，感觉还是这条链的问题，准备跟ate那边的工程师好好沟通一下，两边操作结合起来分析分析。

wzheng90

用mentor diagnosis 分析出错的node，
如果有credit 100的基本就是问题所在。
如果diagnosis结果不太合理，基本就是实际layout和ATPG的netlist之间有不一致。慢慢debug吧。

zyl14051049

你是stuck at pattern还是trans pattern 看看降低测试频率能不能解决问题！如果可以那应该是时序不满足要求！你做pattern的后防了吗？