请教Tetramax测试向量生成问题

snowzx · 发表于 2015-5-20 14:15:24

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设计是一个数模混合电路，针对数字部分做ATPG，数字部分有很多信号并不会输出到顶层port端，如
module digtop（top_A，top_B，top_C，internal_A，internal_B，internal_C），其中top_A，top_B，top_C是输出到顶层的port，ATE时可以直接加测试激励，而internal_A，internal_B，internal_C是输出到内部其它模拟电路的pin，在ATE是并不会加测试激励。为了提高测试覆盖率，已经在DFT时对internal_A，internal_B，internal_C处添加了test point。

希望Tetramax只针对top_A，top_B，top_C产生测试向量，请问有什么命令可以实现吗？我现在采用的是在门级网表中，手动将top层的pin：internal_A，internal_B，internal_C删除，但是不确定这样是否可靠。多谢啦

ljjbunny · 发表于 2015-5-22 12:58:39

可以用add_pi_constraints

snowzx · 发表于 2015-5-22 16:27:36

本帖最后由 snowzx 于 2015-5-29 14:04 编辑

回复 2# ljjbunny

多谢回复，我找到了命令：

DRC> add pi constraints X internal_pi
DRC> add po masks internal_po

实验了一下，发现生成的test pattern里输入pi_A被设置为X，输出po_B也始终为X。但是write_pattern时，激励序列里还是有internal_A和internal_B，在生成的wgl文件中也存在，值都为X。这样在ATE测试时，能准确给每个顶层top_port加激励吗，也就是说，带有internal_A和internal_B的激励序列会不会影响给top_A，top_B，top_C加激励向量？

本人新手，还没用过ATE，希望大神能给普及下知识，多谢啦

snowzx · 发表于 2015-5-25 09:35:36

自己顶一下，求大神帮助

pxlsy2000 · 发表于 2015-5-26 13:48:45

仿真又看了看好像本来就不会对internal A B C加激励吧只会对你设置的scan in的port加激励

timchen0716 · 发表于 2015-5-26 14:09:16

这样的设计是不是应该在test mode下，信号internal_A,internal_B,internal_C再次通过input绕进core里面？

pxlsy2000 · 发表于 2015-5-28 19:45:23

唔又看了下在scan enable=0的时候还是对internal A B C加了激励。
那这样的话是不是输出也得考虑一下？如果有不连接到外部的输出的话

snowzx · 发表于 2015-5-29 10:25:03

回复 6# timchen0716

恩，是这样的

snowzx · 发表于 2015-5-29 10:43:46

回复 7# pxlsy2000

恩，输出也做了类似的处理，对不连接到外部的输出port也添加了test point

pxlsy2000 · 发表于 2015-5-29 13:38:16

回复 9# snowzx

你弄好了么？我最后在spf文件里把internal ABC给删掉了，在仿真就不会对这几个信号加激励了。。可是依旧不太明白设constraint x是干嘛用的……

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