DFT分模块scan

zhangbchao · 发表于 2016-2-17 11:09:41

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请问一个顶层包含两个模块A和B，为了降低测试功耗，怎么分开做scan？例如有两个控制信号test_mode1和test_mode2
是用multiple test mode 还是 partition?
以及TMAX时怎样生成pattern,是同一个还是分成两个？
最好谁有个分模块scan的脚本参考一下，感谢感谢

zhangbchao · 发表于 2016-2-17 13:45:53

求人解答，感谢～～～

zhangbchao · 发表于 2016-2-19 09:39:55

顶顶，求人解答～

iseepiglet · 发表于 2016-2-22 10:49:28

你去solvnet上搜一下core wrapper

zhangbchao · 发表于 2016-2-24 09:32:18

回复 4# iseepiglet

你好，表示感谢~还是有一点疑惑，core-wrapper不是用来测试模块间阴影逻辑的吗？还可以用来分模块测试么？顶层包含的两个模块怎么分开呢？

iseepiglet · 发表于 2016-2-24 15:59:33

回复 5# zhangbchao

core wrapper就是用来隔离需要单独测试的模块与外部的逻辑的，就是一个单独测试项了，可以把需要单独测的几个模块做core wrapper，剩下的模块与顶层一个测试项。atpg时就把不同的测试项分别生成scan pattern就可以了。

zhangbchao · 发表于 2016-2-25 09:15:32

回复 6# iseepiglet

感谢回答~请问如果不做core_wrapper会有什么影响么，在不考虑覆盖率的条件下。还是说分割必须在有core_wrapper的基础上？
是用define_test_mode -target {}选项来实现这样的分块吗？
请问有一个简单的脚本可以做参考么，谢谢！

qijunone · 发表于 2016-3-2 12:01:26

参考IEEE 1500 协议，主要定义用于阶层测试实现分别测试的。
用wrapper chain分离模块A和B 用控制信号实现控制

小坤坤帅 · 发表于 2019-6-6 17:46:01

最终我结果是怎样处理的呢？必须要两个输入？可以共用一个不？

[求助] DFT分模块scan

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