Test Cost Reduction(DFT)

yangweijlu · 发表于 2015-11-12 19:48:45

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主要介绍了减少测试成本的基本方法:
包括OCC电路;
Scan compression;
Scan balancing Method;
Power-aware DFT...
感兴趣的可以看下.

ab3028 · 发表于 2015-11-12 20:34:35

Thank You.

student321 · 发表于 2015-11-13 18:26:51

kan kan

hanbing_0812 · 发表于 2015-11-28 15:59:54

回复 1# yangweijlu

学习一下谢谢分享

opqfeixue · 发表于 2016-2-16 13:04:45

感谢分享。

eekevin25 · 发表于 2016-2-20 01:24:12

good data

risccpu · 发表于 2017-7-19 13:54:15

good occ reference

wangyongan · 发表于 2017-7-28 22:56:17

好资料，谢谢

去栖 · 发表于 2017-9-11 11:30:21

谢谢分享

opqfeixue122 · 发表于 2018-8-10 13:45:20

感谢分享。

[资料] Test Cost Reduction(DFT)