在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 2454|回复: 4

[讨论] 关于dft scan,扫面链

[复制链接]
发表于 2015-9-7 17:54:17 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
请教:
  1. 扫描链一般是多少条?
  2. 有什么原则?
 楼主| 发表于 2015-9-21 18:16:59 | 显示全部楼层
自己顶一下,等待中。。。。。
发表于 2015-10-14 10:16:51 | 显示全部楼层
没有具体原则,主要依据design的大小;
 楼主| 发表于 2015-10-15 09:33:31 | 显示全部楼层
回复 3# zhiyong012

谢谢回复!顺便请问,DFT的时候对于full scan和partial scan是怎么选择的,有什么策略??
full scan会效率更高,但是增加面积,同时会降低性能;而partial scan则增加设计的复杂性.这两者之间怎么平衡选择?
发表于 2015-10-21 15:08:26 | 显示全部楼层
如果design中没有需要单独进行测试的IP,一般就进行full scan insertion;如果存在单独测试的IP,就partial insertion;单独测试的IP要单独insertion,单独ATPG;
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-29 05:28 , Processed in 0.016711 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表