ADC测试

ningyuan198

最近测试sarADC，采样速率为500KHz,输入信号为30KHz、偏置1.65V,幅度1.5V。总共采集了4M的数据量，使用wavevision做FFT，结果ENOB算出来居然只有零点几，甚至某些配置下为负数。但是，时域上显示是30KHz的正弦波。

我将数据量减少为32768，有效位数竟然变成了六点几，着实让人费解。

在论坛中搜了下，发现Fin和Fsample的设置有讲究，Nwindow和Nrecord要互为质数。
对比wavevision的结果，发现fund bin的值在数据量为4M时，居然比500K还大，而数据量为32768时，fund bin为1966；这fund bin与bin是同一个参数么？

在maxim的PDF：Coherent Sampling vs. Window Sampling中看到，其描述的bin=Fsample/Nrecord，而且注释1里面还说Nwindow需要是2的幂次方。
感觉这注释里面Nwindow是不是笔误，应该是Nrecord？

对于ADC的动态特性测试，有以下疑问，
1. 输入信号的幅度应该如何设置？

2.存储的数据量Nrecord是否没有必要太大？（我见很多测试代码都是只用了8192个）

3.窗函数改如何选？（在wavevision中，感觉这flattop明显好很多）

本人刚接触ADC，纯新手菜鸟，问题难免比较low，还请各位大侠不吝赐教。

ningyuan198

期待各位大侠的回复啊

fuyibin

测试？仿真？两者是不一样的

dongzz201

不懂，你在做测试？还是只是软件仿真？
如果是芯片测试，那就简单了，直接用仪器量测就可以了。

浩然

楼主怎么样了，Nwindow到底什么意思啊

梦飘远方

顶顶顶

MNJR

1241-2010 - IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters
参考这个标准
其实主要是DSP里DFT相关的一些知识