新世代SAR值量测设备及微型近场电磁波扫描之未来发展研讨会

Trevor-w · 发表于 2015-5-18 16:27:10

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2015Auden研讨会_报名简章_CN.DOCX (691.08 KB, 下载次数: 0 )

第十届新世代SAR值量测设备及微型近场电磁波扫描之未来发展研讨会

Auden & SPEAG Taiwan/China the 10thworkshop series

Optimized Measurement Solutions for SAR/OTA/EMC

今年将迎来第10届耀登科技软硬件研讨会，耀登科技仪器销售部多年来专注于量测设备与仿真软件的销售，相关设备皆以使用者立场亲自体验, 特别展示快速量测SAR设备，欢迎旧雨新知到场指教。今年大陆区订于2015年6月3日于北京中关村皇冠假日酒店，6月5日于深圳海景奧思廷酒店，6月8日于上海中油阳光大酒店举办「2015 SAR/OTA/EMC量测模拟暨实机体验研讨会」，会中将分享CTIA最新法规与穿戴式装置未来发展、SAR, HAC, EMC测量技术及最新测试功能，今年强势推出cDASY6及生物医学软件sim4life。让业界能借此研讨会针对电磁量测与模拟之先进技术进行交流和经验分享，现场亦将展示相关软硬件设备并进行亲身体验，我们还准备了抽奖活动，衷心地期待您的到临和参与！

主办单位： Schmid &Partner Engineering AG

Auden Techno. Corp. 耀登科技股份有限公司

【会议地点及时间】:

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Date： 3 Jun 2015 (Wednesday) 5 Jun 2015(Friday) 8Jun 2015 (Monday)

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Time： 9:00 AM ~ 16:30 PM

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Location 北京中关村皇冠假日酒店北京海淀区知春路106号(3 Jun）

深圳海景奥思廷酒店深圳南山区华侨城光侨街3-5号(5 Jun)

上海中油阳光大酒店浦东新区东方路969号(8 Jun)

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Contact information:Auden Techno. Corp. Equipment Marketing Dept.

TEL: (021) 61631930 orE-mail Ins@auden.com.tw

Ext 0 Tina Xu E-mail: Tina.Xu@auden.com.tw

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活动费用: 全程免费(提供午餐餐盒、讲义、茶点、水果)

【Workshop议程表-2015新世代SAR值量测设备及微型近场电磁波扫描之未来发展研讨会】

	China Workshop – 3 Jun 2015~8 Jun 2015
Time	Agenda	Speaker
09:00 - 09:20	Registration
09:20 - 09:30	Opening & Welcome Remarks	Auden & Dr. Nicolas Chavannes
09:30 - 09:45	Update on SAR, HAC & OTA Measurement Standards	Dr. Mark Douglas
09:45 - 10:10	DAK-TL - Fully Automated Dielectric and Magnetic Material Characterization Test System for Thin Layers (incl Demo)	Dr. Sven Kühn
10:10 - 10:30	Coffee Break
10:30 - 11:30	Outlook on Sim4Life V2.0 & SEMCAD Matterhorn V15.4 (Release Highlights)	Dr. Nik Chavannes
11:30 - 12:30	Selected Applications of Sim4Life V2.0 & SEMCAD Matterhorn V15.4	Aiping Yao
12:30 - 13:30	Lunch
13:30 - 13:45	EM-Phantoms - Roadmap for Body-worn/Wearable and Medical Device Testing	Dr. Sven Kühn
13:45 - 14:30	cSAR3D: Real-time SAR Assessment with Vector Technology (incl. Demo)	Dr. Mark Douglas
14:40 - 15:00	cDASY6 - DASY52 revised	Dr. Mark Douglas
15:00 - 15:20	Coffee Break
15:20 - 15:40	SPEAG TDS (Time Domain Sensors): Photonic Technologies for Absolute and Traceable Measurements in EMC/EMI Near-Field and Signal Integrity Analysis	Dr. Sven Kühn
15:40 - 16:00	SPEAG ICEy (Interference & Compatibility Evaluation System): Introducing Absolute and Traceable Measurements in EMC/EMI/SI Near-Field and Radiated Emission Analysis	Dr. Sven Kühn
16:00 - 16:15	Q & A
16:15 - 16:30	Raffles
16:30 - 16:40	Closing Remarks

※主办单位保有更换讲师及议题之权利【报名表及报名方法】

一、eMail报名:

请填妥以下报名表，email 到Ins@auden.com.tw，有专人为您服务喔！

※注意事项: 请于22 May 2015 (星期五)前以上述报名方式回复本简章以便保留您的座位

【报名表】

公司名称
报名场次	□北京场 □深圳场 □上海场
报名编号	姓名	部门	职称	e-mail Address	电话	移动电话
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行业分类 (请标示号,可复选并简述营业项目*)	通讯制造业 : 安规/认证实验室: 学校/学术单位 : 其他( ):
注	1. 主办单位提供午餐给参加全日场次报名者，请勾选午餐晕( ) 素( )