芯片测试时出现问题，芯片把电源的输出电压都改变了

wjx197733 · 发表于 2015-4-21 14:09:55

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本帖最后由 wjx197733 于 2015-4-21 14:12 编辑

向各位请教一下，最近在测试一个芯片，在芯片的引脚加一个-5V的电压。芯片测试时出现问题，电源的输出电压都改变了。
刚开始时，加在芯片引脚的测试电源的输出电压是-5V，可过了一会，芯片的电流快速增大，达到了几乎1安培，而且测试电源的电压竟然被芯片抬高到了-3.7V左右!
一直想不通原因，发个帖子向各位请教一下，芯片内部怎么会有那么大的力量，竟然能改变电源的电压？

cwj0119@163.com · 发表于 2015-4-21 14:12:20

short了的话就很正常啊~，你这个像是latchup啊

wjx197733 · 发表于 2015-4-21 14:17:21

忘记说明一下，此芯片用的是bipolar工艺，电路仿真时没有问题啊，测试时咋出现这么诡异的现象呢？

hehuachangkai · 发表于 2015-4-21 14:45:07

latch up的典型表现哦

wjx197733 · 发表于 2015-4-21 14:51:38

本帖最后由 wjx197733 于 2015-4-21 15:10 编辑

latch up通常在CMOS中出现，bipolar双极工艺也有latchup？版图的问题？可麻烦了，怎么找到发生latch up的地方呢？

fightshan · 发表于 2015-4-21 15:38:42

本帖最后由 fightshan 于 2015-4-21 21:55 编辑

·········

wind2000sp3 · 发表于 2015-4-21 17:34:13

回复 5# wjx197733

有latch up。Bipolar的Latch up比CMOS的更容易发生，因为任何一个结的非正常偏置都会导致latch up。Simulation里面你没有放寄生PN结，当然就仿真不到Latch up现象了。要在不同的工作条件下查看每个pn结的偏置情况。

wjx197733 · 发表于 2015-4-21 17:40:18

您好wind2000sp3：有没有什么方法能定位发生latch up的地方？

hszgl · 发表于 2015-4-21 21:11:30

可以把烧毁的芯片拍个照。

mk2003 · 发表于 2015-4-21 21:55:52

找个片子，上电开盖热成像。

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