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楼主: 自学成菜

[求助] +-250ppm的高精度RC振荡器?

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发表于 2017-7-27 16:32:37 | 显示全部楼层
回复 39# andy2000a


   没明白这篇文章和RC 振荡器有什么关系呢
发表于 2017-7-27 17:43:59 | 显示全部楼层



  RC 要做到准应该不容易吧 , 网路看到 paper 可以 250ppm 很多是使用 LC 或其他 900mHz => 25MHz
+ PLL .加一堆.  所以应该说 RC 振荡器 真能做到 250ppm ??  能达成paper 很多是给 USB (serdes ) 高频
也非 32K clock

我先前流片RC 振荡器  -40 ~120 度都还有 2~3%  ,  不过这是量产 CHIP
最多看到paper  0.25% = 2500 ppm  .
但是也是paper 跟本非实际可以使用.
一般单片机RC clock 内建 2~3%  ,如果内建RC 真的可以 250PPM 都可以取代XTAL
但是好像没看到单片机是如此 .  很多单片机都还是写 2%
有人可以提供下 250ppm RC振荡器 paper给小弟参考下 .
发表于 2017-7-27 19:07:41 | 显示全部楼层
回复 42# andy2000a


   是的啊 ,话虽如此。所以就想看看楼主是怎么做的
发表于 2017-7-28 10:05:08 | 显示全部楼层
个人愚见:
1. 电路肯定需要做温度补偿 做到 PPM指标
2. dc offset 小步长调节应该没问题。
3. 要是能做self-cali 是最终设计,毕竟费用是用时间算的。也就是说给一个REF的 CLK,一定时间后,电路自己计算 default register。
发表于 2017-7-28 10:11:22 | 显示全部楼层
再补充一点:1. 电阻温度reg控制调节温度 PPM, 电容(与温度无关)调节offset。 若能确定最终reg值,直接efuse 一次烧成。。
显然片-片之间reg不同,不可能采用一个值烧fuse,所以每片都在终测自己烧。
发表于 2017-7-28 14:44:48 | 显示全部楼层


再补充一点:1. 电阻温度reg控制调节温度 PPM, 电容(与温度无关)调节offset。 若能确定最终reg值,直接e ...
TianBian365 发表于 2017-7-28 10:11




    这个实做会很大问题 , 因为 WAFER 上有 die-die 问题, 以前 constant  led current 时就发生,
  die-die 要调 yield ,  但是还有 wafer by wafer , 还有 lot by lot ..搞得后端很麻烦 .因为

以LED constant backlight driver , 可能是 60ma .
但是 wafer die by die 调整後 wafer by wafer 不能通用 .就算 die 可以 trim 也无法量产 .
因为量产须要可控制范围内 trim .
今天 一片 wafer 找出最好 "trim" 值 ,  下一批 wafer 跑下去 low yield .
而且如果先测 clock 再 trim 那要多一次 laser 时间 . 可能
光 bandgap trim 一次再来要求 电阻 再 trim .太花功夫了

投paper 可以 ,  但是量产一片上万颗 die ,  还有每片 wafer ,  还有每个 lot .
除非 die cost 可以卖很贵, 可是使用 RC 就是希望 "便宜"  
要准就直接使用 XTAL 了 . 今天为RC 多一堆电路会划算吗??
发表于 2017-7-29 06:51:15 | 显示全部楼层
回复 46# andy2000a
分析有道理。指标定义不好,累死三军。
发表于 2017-8-9 08:20:24 | 显示全部楼层
我们做的RC oscillator花了好几年时间累积,也只做到了在trim后量产PVT精度在+-5%以内,最主要误差还是温度,其次trim的精度,VDD在regulator下影响比较小。这个250ppm有点神。
发表于 2017-8-9 08:33:40 | 显示全部楼层
回复 42# andy2000a


   thanks, learning
发表于 2017-8-9 15:15:21 | 显示全部楼层


这个实做会很大问题 , 因为 WAFER 上有 die-die 问题, 以前 constant  led current 时就发生,
  ...
andy2000a 发表于 2017-7-28 14:44



此外还有几个方面的考虑
1,RC osc在量产中如果需要几秒的ATE机时,去做calibration/trimming,也是很高的测试成本
2,对于几百ppm的 RC osc,芯片老化是不是也是一个不可控因素,芯片工作一段时间后,中心频率就会有shift
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