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查看: 3513|回复: 6

[求助] T厂PDK的阅读出现障碍,求助

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发表于 2014-11-26 20:23:47 | 显示全部楼层 |阅读模式

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T厂PDK文件中给出了mos器件的工艺角偏差会给出:vth_lin/vth_sat/vth_gm/Idlin/Idsat/Ioff/Isoff等,请问都是什么意思呀
 楼主| 发表于 2014-11-26 20:28:41 | 显示全部楼层
版主来吧,传授一些经验
发表于 2014-11-26 21:31:37 | 显示全部楼层
以.13um core NMOS为例:
Vthlin is extracted by sweep Vgs@ Id = 0.1uA*W/L, Vds = 0.05V;
Vthsat is extracted by sweep Vgs @ Id = 0.1uA*W/L, Vds = 1.2V;
Idlin is measured @ Vds = 0.05V, Vgs = 1.2V;
Idsat is measured @ Vds  = Vgs = 1.2V;
Ioff is measured @ Vgs = 0, Vds = 1.2V...
 楼主| 发表于 2014-11-27 08:13:15 | 显示全部楼层
回复 3# victor0o0


    多谢分享,vth-gm就是我们常用的量吧,在0.13um工艺下,vth-lin和vth-gm有没有很大的偏差呢?
发表于 2014-11-27 09:47:41 | 显示全部楼层
多谢分享,

回复 3# victor0o0
发表于 2014-12-13 05:42:42 | 显示全部楼层
回复 3# victor0o0


    赞一个
发表于 2021-4-1 14:23:02 | 显示全部楼层


victor0o0 发表于 2014-11-26 21:31
以.13um core NMOS为例:
Vthlin is extracted by sweep Vgs@ Id = 0.1uA*W/L, Vds = 0.05V;
Vthsat is ext ...


谢谢!
不过Vth-gm是如何定义的呢
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