设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 设计讨论 › 请教环路稳定性问题。环路增益在0DB处有多个拐点 ...
返回列表 发新帖
查看: 1532|回复: 1

[求助] 请教环路稳定性问题。环路增益在0DB处有多个拐点

[复制链接]
sunyancong
发表于 2014-10-8 14:00:37 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？注册

x
bb.png
在环路中存在LC滤波，导致环路增益在0DB处有多个交点
请问这种多UGF的情况怎么分析环路稳定性？已那个UGF点的相移为准？
此环路是否稳定？
稳定性

相关帖子
回复

举报

totowo
发表于 2014-10-8 15:00:01 | 显示全部楼层
gain margin不够，可能是由一对Q值过高的共轭非主极点引起的。
稳定性需要改善。
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-24 15:15 , Processed in 0.017274 second(s), 10 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表