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查看: 2853|回复: 8

[原创] 为什么nmos的vth受器件length的影响比pmos管大?

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发表于 2014-8-21 13:41:59 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 scy8080 于 2014-8-21 13:46 编辑

为什么nmos的vth受器件length的影响比pmos管大?大概有6~10倍的差值。是因为nwell工艺的影响吗?
发表于 2014-8-21 14:00:41 | 显示全部楼层
还可以啊。。。
发表于 2014-8-21 14:12:44 | 显示全部楼层
没有感觉差这么大,应不超过一倍吧
nmos和pmos的工艺参数不同,比如 doping不一样
发表于 2014-8-21 16:12:32 | 显示全部楼层
不能这么讲, 有可能不同的L范围, 变化量有区别,  这和 器件采取SURFACE CHANNEL, BURIED CHANNEL, 有没有HALO IMPLANT, TIP IMPLANT, STI CORNER 的形状等等,工艺参数密切相关的.
 楼主| 发表于 2014-8-22 13:53:56 | 显示全部楼层
这是我放真到的,smic 0.18um 3.3v 器件的特性。
发表于 2014-8-22 14:57:50 | 显示全部楼层
3.3v 器件 变化有这么大?
你仿真的方法呢?
 楼主| 发表于 2014-8-22 15:37:51 | 显示全部楼层
本帖最后由 scy8080 于 2014-8-25 15:09 编辑

扫描参数从0.6u到2u,查看.op结果vth值。
无标题.png
发表于 2014-8-23 09:21:58 | 显示全部楼层
回复 7# scy8080


   我一般都是二极管连接 然后加个理想的电流源
发表于 2014-8-23 14:31:41 | 显示全部楼层
nmos的迁移率比pmos大

I=0.5*uCox(W/L)(Vgs-Vth)^2*(1+入Vds)

由于un>up,所以其他参数相同时,nmos受Vds影响大~~

个人意见,欢迎指正。。。。
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