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[求助] 为什么MOS电容在VGS为0时氧化层下仍有耗尽层?

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发表于 2014-6-28 20:06:42 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 fumes 于 2014-6-30 09:20 编辑

为什么MOS电容在VGS为0时氧化层下仍有耗尽层?
发表于 2014-6-30 09:05:30 | 显示全部楼层
因为是native管
发表于 2014-6-30 10:04:42 | 显示全部楼层
有功函数差
发表于 2014-7-4 22:31:08 | 显示全部楼层
栅极多晶硅或金属与衬底Si的功函数差、Si/SiO2的界面电荷和界面态等导致。功函数差的来源是材料的费米能级差,费米能及衡量材料中的电子"活力",两种材料中的电子“活力”不同,当短接两极时,更有“活力”的电子从一材料向另一材料扩散,并在扩走电子的位置留下正离子,则GOX对面的另一材料产生镜像电荷,于是产生空间电荷区。
发表于 2014-7-4 23:54:24 | 显示全部楼层
work function
发表于 2018-4-13 17:34:29 | 显示全部楼层
请问MOS管的耗尽层的沟道镜像电荷是什么意思呀?为什么耗尽层变大,耗尽层电荷变多?
发表于 2018-4-15 09:47:57 | 显示全部楼层
回复 1# fumes


    如果没有耗尽区cgb是不是等于0?
发表于 2018-4-15 20:59:12 | 显示全部楼层
费米能及衡量材料中的电子"活力"
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