在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 23004|回复: 21

[求助] ESD与latch up的区别

[复制链接]
发表于 2014-6-24 15:17:04 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
理解中,ESD是有大的瞬态电压通过pad传至芯片内部,管子被击穿从而造成芯片无法工作。而latch up是芯片内部形成了大电流的通路,从而造成芯片失效。不知道这样的理解对吗?还是ESD和latch up之间也会有相互的影响呢?请教各位。
发表于 2014-6-29 13:03:42 | 显示全部楼层
回复 1# wbautumn


   两个概念,没联系。这问题很多书上有,自己去看书吧。
发表于 2014-7-3 13:55:28 | 显示全部楼层
没啥关系吧, esd比latchup还复杂,理解起来
发表于 2014-7-10 12:09:02 | 显示全部楼层
ESD是高压击穿了栅,latch up是电流太大烧毁了器件
发表于 2014-8-28 13:47:35 | 显示全部楼层
ESD事件可导致介质击穿;
导电通路大电流熔断;
PN结击穿短路。
LATCHUP是由于外界或内部的干扰,使寄生的PNP与NPN形成正反馈,电流不断放大导致芯片烧毁。
发表于 2014-9-30 23:40:56 | 显示全部楼层
首先来源就不同  esd就那么点能量 完了就完了 他还latch个毛

之所以放一块说 是因为正常工作的时候  esd单元可能会出现latch  最明显就是scr那玩意了
发表于 2019-4-9 09:51:05 | 显示全部楼层
谢谢分享!
发表于 2019-5-6 17:15:33 | 显示全部楼层
我觉得这个解释比较直观:
Latch-Up是指芯片中power pin 和ground pin之间由于PNP和NPN双极性BJT相互影响而产生的一个低阻抗通路。它的存在会使power pin和ground pin之间产生大电流。过大的电流有可能会永久性的破坏芯片的基本结构。
ESD即静电放电效应,是芯片制造和使用中最容易破坏芯片的因素之一。简单来说就是正负电荷的过快释放,产生极大的电压差,导致芯片被击穿。
发表于 2019-5-31 22:29:17 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2019-6-18 13:13:57 | 显示全部楼层
真是好的解釋
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-26 02:00 , Processed in 0.033175 second(s), 11 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表