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[求助] 芯片测试中频谱出现”尖峰“

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发表于 2014-5-28 10:21:03 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 qingyinnj 于 2014-5-28 22:12 编辑

对流片出来的PGA芯片测试,频谱曲线是这样的 1.gif ,不知道称作尖峰是否合适。电路设计的中心频率就是2MHz,但是在这个频率下频谱曲线出现突起,是什么原因造成的?
如果是因为相位裕度不够,那么随着频率增大,相位裕度减小,大于2MHz的信号的相位裕度应该更小,可是可以看出频谱曲线是正常的......
还请大家能交流下测试环境整体照片当时没想到拍,我就只能画一个测试框图: 2.png ,上述结果是PGA电路单独测试的结果。PGA共有四级增益电路模块工作,最后一级是可变增益级,始终处于工作状态,而其他三级会通过MOS开关切换选择是否介入电路。因为时间有限,没有记录下所有增益档下的频谱曲线,但个人根据测试结果推测每一档都应该会出现这样情况:最初切换增益档时,频谱曲线是平坦的,稍微等几分钟就出现了鼓包。由于可变增益级是始终工作的,我觉得可能是该级的相位裕度不够。但后仿开环的相位裕度有68度,似乎不能解释这个现象。
发表于 2014-5-28 11:06:28 | 显示全部楼层
你这是PGA还是complex filter?
如果是PGA为什么在DC附近也往下衰减
 楼主| 发表于 2014-5-28 13:29:25 | 显示全部楼层
回复 2# buckaroo

是PGA,因为有个直流隔离电容,所以会出现类似带通的性能。指标的话满足0.5~3.5MHz就好了。
发表于 2014-5-28 16:09:33 | 显示全部楼层
你确定目前的测试结果是没有其他干扰条件下测试出来的?您最好详细介绍一下您的测试方法,测试时pga是单独工作,还是pga与其他电路一起测试所得的结果。
发表于 2014-5-28 19:11:42 | 显示全部楼层
本帖最后由 朱立平 于 2014-5-28 19:13 编辑

附一下測試條件電路圖吧 最好加上測試環境整體照片 設計電路的起手式就是學會測試
 楼主| 发表于 2014-5-29 08:14:40 | 显示全部楼层
回复 5# 朱立平


非常赞同您说的学会测试,我添加了点测试条件和框图,您在帮我看看还有什么需要补充的?
发表于 2014-5-29 08:33:48 | 显示全部楼层
本帖最后由 朱立平 于 2014-5-29 08:43 编辑

回复 1# qingyinnj


   一般IC內的OP我都設計phase margin在90度以上 你這個現象可能是IC外部造成的 就是PCB上面的電路裡面形成了LC震盪迴路 (線拉太長就是電感) w=1/(LC)^.5   這是PCB寄生電感跟你PCB上decouple capacitor 形成共振 你可以找一下共振迴路在哪裡 在迴路理串一個小R(<10 ohm)就可以讓他under damping 吃掉共振 重點是破壞共振 用snubber也可以 硬體debug是很累的 你要有心理準備
(先測一下儀器有沒有壞掉 把儀器打開兩端short 等一段時間 看會不會這樣)
发表于 2014-5-29 08:51:55 | 显示全部楼层
这样高的尖峰,看起来似乎是有弱自激。看看测试电路板电源处理是否得当,在靠近芯片管脚的部位,电源到地焊上大的钽电容,如果还不行,可以考虑在电源上并联大的电解电容。使用电解电容时要注意,使用完要正负极在金属导体上同时接触一下,进行放电,否则芯片很容易坏掉。
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