scan chain设计时memory如何处理

juniorm

回复 10# tbb2009


    谢谢你的回复，想问你说的EDA公司会有tool可以实现，请问是什么tool?
   感谢~~

juniorm

回复 9# ip_qq3010583137

   了解了。。
    谢谢你的回复~~

qingtingsanmo

将memory bbox 后，其输出输入端口还要怎么处理吗？我现在电路里含有sram,我设了bbox 但是在dft_drc 还是显示“unctionality for output pin q[7] is bad or incomplete.” 求高人指点

aha233.

williamliwei 发表于 2014-9-25 21:57
可以在memory周围一圈插入test point，用来提高测试覆盖率，有的lib可会内嵌scanchain， 在插scan的时候读 ...

lib内嵌scanchain读mem自带的ctl需要怎么读取啊，dcshell或者tessent上具体怎么操作，方便解答下嘛，感谢

sumit_enggr

Thanks this good post

matlab5000

juniorm 发表于 2014-9-25 16:56
回复 2# tbb2009

你好，我不太清楚你说的“scan的时候，memory都是在I/O被bypass掉的”是什么意思？

就是scan的时候memory不要被读写，防止误动作。