MCU芯片一般都带可测性设计（DFT）吗？

nini816 · 发表于 2014-5-23 19:20:14

芯片设计的时候会有功能测试的。
像三星有个Test Pin，是专门测试用的，用户使用时要Fix 0

姚圈圈 · 发表于 2014-6-1 16:44:31

我感觉不是全带吧

sxhhhjicbb · 发表于 2014-6-8 18:23:26

JTAG是DFT其中之一吧

snowkally · 发表于 2014-6-8 21:02:33

duandz · 发表于 2014-6-17 20:55:00

好资料

zhangjunxf · 发表于 2014-6-25 08:36:41

我感觉不是全带吧

sangrealf · 发表于 2014-6-26 22:17:18

主流的 arm core mcu基本都有，用于产线上测试，譬如覆盖各功能模块，存储器mbist测试之类。到用户手里jtag接口主要就是下载代码调试仿真啥的，

Holtek12 · 发表于 2014-7-1 06:50:31

一般測試都是會加上去的.

sasso · 发表于 2014-7-30 23:12:09

回复 6# Newstyle

nice

hnulht789 · 发表于 2015-10-27 16:24:50

主流的 arm core mcu基本都有，用于产线上测试，譬如覆盖各功能模块，存储器mbist测试之类。到用户手里jtag接口主要就是下载代码调试仿真啥的，

[求助] MCU芯片一般都带可测性设计（DFT）吗？