MCU芯片一般都带可测性设计（DFT）吗？

jeffej · 发表于 2015-10-30 11:14:58

np DFT ! but you can add it yourself !

jeffej · 发表于 2015-11-14 15:36:47

不一定啊 !!!

somerice · 发表于 2015-11-19 21:15:46

回复 2# guolehaohao

版主这个解释不太准确哦。
DFT是指Design for Test，我想楼主应该主要想问的是SCAN（插扫描链）。
一般来说，数字设计的前期可以不用考虑scan的问题。
设计完成后做综合时，根据需要修改一些时钟/复位信号的特殊处理，然后调用不同的综合指令，即可选择调用std cell中的不同单元（主要是DFF的区别）。
数字逻辑部分，加SCAN相比不加SCAN，面积约会大出15%～30%.

SCAN测试对纯数字的逻辑测试效果好，相比较于functional test，一般时间上有优势，测试覆盖率也方便统计。
但对于数模混合电路，包括MCU，一些模拟部分的测试可能还是需要额外的测试模式设计。
因此，要不要加SCAN，完全取决于芯片成本和测试成本的综合权衡。

同样是51内核的单片机，集成度也会有很大差异，内核只是一个平台而已。
我也分别做过加SCAN和不加SCAN的，不能一刀切了。