在综合的时候已经使用compile_ultra -scan 将RTL中的触发器全部替换成带SI SO 和 SE 的触发器了, 然后再插入扫描链,或者说是将这些带SI SO 的触发器按照要求串接成扫描链。在扫描链串接的时候只用create_protocol 和 inset_scan命令,不用compile命令可以吗?
跪求大神啊!在芯片的core(功能逻辑)层,按照上面的方法插入扫描链,用Tmax可以生成测试向量,覆盖率在97%,在TOP层(core层以为增加了IO pad,power control ,clock generator等模块,这些模块里测试逻辑在RTL里已经设计好)用Tmax生成测试向量的时候,覆盖率却只能到20%,测试的时钟,复位已经几条测试链都正确,请问这是该怎么解决呀!有碰到过类似问题的朋友吗,帮帮忙!