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[求助] DFT 的scan_mode

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发表于 2013-8-6 11:15:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

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各位大侠:
我在设计DFT controller,我进入scan_mode是采用一个PAD串行码输入的方式。
当输入一组串行的码时就进入scan_mode,相当于这个scan_mode信号时内部信号。
而当我做DFT compiler时我该怎么指定这个内部信号scan_mode 为1呢?
如果使用internal pin flow是可以指定的,但是生成的spf文件不能用于ATPG。
请问除了internal pin flow还有什么办法可以指定?
发表于 2013-8-6 13:14:01 | 显示全部楼层
set_dft_drc_configuration -internal_pins enable
set_dft_signal -type TestMode -hookpin xxx/scan_mode -active_state 1 -hook_sense non-inverted
发表于 2013-9-24 16:51:11 | 显示全部楼层
发表于 2013-9-29 21:14:08 | 显示全部楼层
不懂啊,正在学习!
发表于 2013-10-1 17:09:32 | 显示全部楼层
I think you need to specify the code seq in the testsetup of spf file to enter scan_mode
发表于 2024-3-21 15:15:57 | 显示全部楼层
请问大侠走internal pin flow ,后面的spf怎么弄的,可以跑ATPG的,谢谢您
发表于 2024-3-21 15:18:07 | 显示全部楼层


wilsonwang 发表于 2013-10-1 17:09
I think you need to specify the code seq in the testsetup of spf file to enter scan_mode


您好,想问一下这个具体是怎么做的,谢谢您
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