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《High-Frequency Thin-Film AlN-on-Diamond Lateral–Extensional Resonators》 该研究团队在AlN薄膜上制造了低阻侧向伸展谐振器,AlN直接淀积在抛光的UNCD薄膜上。UNCD大的声速用来增加这种谐振器的频率。相比于在硅上制造的,TPoD谐振器的谐振频率增加了两倍。采用有限元分析,测得多梁的29次TPoD薄膜谐振器的最小动态电阻是22Ω,在888MHz时f · Q乘积2.72*file:///C:\Users\DELL\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps_clip_image-5846.png。测得这种TPoD谐振器的TCF为-9.6ppm/file:///C:\Users\DELL\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps_clip_image-13137.png,相对于硅上器件来说要低得多。该团队制作的TPoS谐振器相比于无衬底的侧向伸展谐振器来说,具有卓越的功率处理能力和鲁棒性。 用FEM研究了谐振器的横向尺寸和支承框架对谐振器的影响。给高次谐振器增加梁数能同时提高Q值和功率处理,降低失效量,IL也能有很大改善。但对于确定的长度有最适宜的阶次谐波,此时有最大的Q值和最小的IL。从133.2μm长TPoD谐振器来看,29次谐波是最佳点。为了降低IL,须增加谐振器动态电阻,可以增加谐振器的长度。然而,寄生模式也增加了。 非常小的UNCD晶粒形成非常光滑的表面,这方便于淀积高方向性的AlN。挑战在于,UNCD的YM随淀积温度增加,平均晶粒尺寸也增加了。可增加抛光步骤解决。在薄膜中增加淀积温度同样降低了残余应力。f · Q乘积相比于在硅上制造的来说提高了1.5倍,这是由于增加了谐振频率。相比于制造在硅上或没有衬底的谐振器,TPoD谐振器显示了更低的TCF值。另外,在不同功率级上检查了谐振器的非线性行为,相比于没有衬底的压电谐振器有更大的功率处理能力。 |