边界扫描和芯片内部全扫描是什么关系？

Numb · 发表于 2013-4-10 12:03:06

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两者完成的测试任务是独立的还是有交集的？边界扫描不是也能测试芯片内部么？另外，如果要用JTAG连接内部完整扫描链，在DC中应该怎样设置？

tianmaoyuan · 发表于 2013-4-11 17:01:05

同问！！！

sjtusonic · 发表于 2013-4-11 17:26:01

是独立的吧，边界扫描是ＰＣＢ的标准。全扫描是芯片内部的ＤＦＴ方法。

对它们之间的接口方式了解不多，搭车盼高人解答！

Gary.wang · 发表于 2013-6-18 20:43:57

Boundary scan enables board-level testing by providing direct access to the input and
output pads of the integrated circuits on a printed circuit board. Boundary scan modifies the
I/O circuitry of individual ICs and adds contro l logic so the input and output pads of every
boundary scan IC can be joined to form a board-level serial scan chain.

Gary.wang · 发表于 2013-6-18 20:47:29

The boundary-scan technique uses the serial scan chain to access the I/O ports of chips on
a board.

zhangjirong · 发表于 2014-2-20 14:19:01

有懂的人讲的明白些吧

[求助] 边界扫描和芯片内部全扫描是什么关系？

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