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[求助] 基于JTAG的DFT结构求教

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发表于 2013-4-10 10:08:06 | 显示全部楼层 |阅读模式

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小弟刚接触DFT,目前在做的一个设计里面使用到了MBIST、边界扫描及全扫描等方法,请问下各位大侠,他们与JTAG的连接方式是怎样的?
我的理解是芯片的IO PAD只有JTAG的接口,然后连接到内部的三条链,即一条MBIST、一条边界扫描链和芯片内核的全扫描链,JTAG的指令寄存器一次选择某一条链进行测试。请各位指教。
发表于 2013-4-10 15:15:48 | 显示全部楼层
你期望的答复是怎样的?
发表于 2013-6-20 21:59:47 | 显示全部楼层
也想知道tap在系统中是如何控制测试的?什么情况下进行boundary scan,什么时候进行内部逻辑cell的测试以及什么时候进行membist的测试。
发表于 2013-7-22 20:14:14 | 显示全部楼层
jtag有时是用来做debug的。它也可以用来做bsd,但和普通scan没关把
发表于 2013-7-29 21:41:50 | 显示全部楼层
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