基于JTAG的DFT结构求教

2421212 · 发表于 2013-4-10 10:08:06

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小弟刚接触DFT，目前在做的一个设计里面使用到了MBIST、边界扫描及全扫描等方法，请问下各位大侠，他们与JTAG的连接方式是怎样的？
我的理解是芯片的IO PAD只有JTAG的接口，然后连接到内部的三条链，即一条MBIST、一条边界扫描链和芯片内核的全扫描链，JTAG的指令寄存器一次选择某一条链进行测试。请各位指教。

eeares · 发表于 2013-4-10 15:15:48

你期望的答复是怎样的？

Syn2012 · 发表于 2013-6-20 21:59:47

也想知道tap在系统中是如何控制测试的？什么情况下进行boundary scan，什么时候进行内部逻辑cell的测试以及什么时候进行membist的测试。

笑傲人生hector · 发表于 2013-7-22 20:14:14

jtag有时是用来做debug的。它也可以用来做bsd,但和普通scan没关把

qsocool · 发表于 2013-7-29 21:41:50

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[求助] 基于JTAG的DFT结构求教

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