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[求助] I2C电路失效分析

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发表于 2012-12-26 15:12:07 | 显示全部楼层 |阅读模式

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目前的项目I2C电路在一个wafer上有18%的不良,采用的是SMIC0.35um的工艺。不良率太高了,想分析一下为什么有这18%的不良。
请问各位大侠这个I2C电路失效的一般原因都有哪些呢?
如果要做失效分析的话,要按照怎么的步骤来做呢?
请教各位了~
发表于 2013-1-18 15:11:56 | 显示全部楼层
aaaaaaaaaaaaaaaaa看看
发表于 2014-3-10 21:54:48 | 显示全部楼层
kkkkkkkkkkkkkkkkk
发表于 2014-3-12 10:41:52 | 显示全部楼层
理論上 0.35um 的製程應該是夠成熟穩定了, 應不會是製程上的問題,
18% 的不良, 是怎麼量到的? 用 function pattern 去 sorting 的?
可以先看看是不是 ATE 上的 function pattern 有 timing 的問題.
发表于 2014-3-12 15:52:34 | 显示全部楼层
失效的原因有很多,没法在这里空谈,需要看现场。
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