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[求助] BSIM1,2,3,4的区别

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发表于 2012-10-25 16:43:04 | 显示全部楼层 |阅读模式

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最近做电路仿真的时候,看了一下model文件,发现其中有个bsim4,上网搜索了一下
发现还有bsim1,2,3
伯克利分校开发的一种电路仿真的标准
求大侠指点这个bsim1,bsim2,bsim3,bsim4之间,在电路仿真时,有什么区别?
发表于 2012-10-25 22:31:59 | 显示全部楼层
就像Iphone 12345一样,BSIM4 是最新的, 包含了WPE,LOD,STI等新工艺效应。工艺在发展,model的精度也在发展。
 楼主| 发表于 2012-10-26 10:25:11 | 显示全部楼层
回复 2# lwjee

仅仅是单纯的算法改变了吗?
其中bsim4的模型可以兼容bsim1的器件吧?
发表于 2012-10-26 12:02:49 | 显示全部楼层
LOD (Length of Diffusion) Effect
http://bubuchen.pixnet.net/blog/post/17334775-introduction-to-lod-effect-%28%E4%B8%8A%29-
將會是影響類比電路的一個重要參數。


WPE
近井(Well)所造成的效應。
http://bubuchen.pixnet.net/blog/post/21776084


STI    淺溝渠隔離
http://ssttpro.acesuppliers.com/semiconductor/Magazine_Details_Index_Id_1363.html
是CMOS技術中的一個關鍵製程,用來隔離電晶體間電子的導通。儘管STI只是用作被動絕緣,當元件尺寸縮小時,其對電晶體特性的影響變成不可忽 略。在文章中提出STI影響電晶體表現的兩個例子。首先探討STI對窄通道電晶體臨界電壓的影響,即所謂的窄通道效應。接下來提出STI對鄰近電晶體造成 的應力變化。以上兩種效應皆是以TCAD程式模擬,期能協助工程師在發展製程時可以把這些效應的影響降到最低。
发表于 2012-10-26 20:20:45 | 显示全部楼层
回复 3# guoweiqust


    我没说是只是算法改变啊。应该可以,但没试过。
发表于 2012-10-26 21:23:39 | 显示全部楼层
BSIM 1->越来越复杂 参数越来越多 提取难度和仿真时间也是越来越长 向下兼容这么看来并不是一个好主意 够用就好
 楼主| 发表于 2012-10-29 09:06:21 | 显示全部楼层
回复 6# 不无道理


   嗯,说的有道理
发表于 2014-9-9 09:20:13 | 显示全部楼层
同求,有没有大神详细解释一下,最近也在看这方面的模型资料
发表于 2014-9-9 16:59:44 | 显示全部楼层
每个更新的版本user guide上都会说明这个版本相对以前版本的改动
发表于 2015-6-8 13:16:31 | 显示全部楼层
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