请教scanchain中scanmode信号采用内部触发器生成时TMAX中上电复位的处理

alsa

大家好，我在插scanchain的时候，scanmode信号采用的是内部时序做的。即由两个端口信号（pclk和pdata）组合而成。简化的代码就是：
always@（posedge clk or negedge por）
  begin
     if(!por)
        scanmode<=1'b0;
     e lse
        scanmode<=pdata;
  end

scanchain插好后，按照DFTC的指导，插scanchain的时候将scanmode信号设置为internal pin，然后修改spf的test_setup部分，将pdata为1传输进去，但是por没有办法模拟，por是一个内部信号，tmax中无法处理por的这个信号，导致scanmode信号不能正确建立，因此tmax过不了。将scanmode信号网表改为1,也不行，因为scanmode信号没有初值。
   有个朋友教我的一个做法是：将por信号拉到端口，在spf中将这个由低到高的矢量给出，这样确实tmax就可以过了。生成pattern后将改por的pin去掉，给出的pattern就这样，因为实际的电路测试时候是会有一个por由低到高的过程，可以复位scanmode信号。
   但是感觉这样怪怪的，即要修改好多，
   请教高人指点下这个应该怎么处理por的信号？
   多谢！