关于工艺库corner的疑问

自学成菜 · 发表于 2012-8-18 10:36:30

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本帖最后由自学成菜于 2012-8-18 10:38 编辑

同一批次同一晶元不同corner都会出现吗？出现概率如何？是不是TT的出现概率最大，成正态分布？还是几个corner出现概率差不多？还是同一批次同一晶元只会出现一种corner?
目前仿真出现PLL在SSS100度的时候输出不稳定，不知道能不能放过去流片？
期待大侠路过指点迷津！！！！！！！！！！非常感谢！！！！！！！！！！！！！！！

liuqiang_top103 · 发表于 2012-12-25 13:25:07

同问

floraysu · 发表于 2013-2-22 21:24:59

同问一直想知道

fuyibin · 发表于 2013-2-22 21:28:00

内容月经帖，呵呵

mpig09 · 发表于 2013-2-23 02:11:10

1. 我遇到的经验是大部份在tt，但有时有几会会到sf或fs，端看工厂的制作的稳定性如何, 至于温度就看应用了
2. sometime for yield, the wafer will not set tt corner, it needs to take care.
3. 目前仿真出现PLL在SSS100度的时候输出不稳定
==>do you know the reason?

pper1983 · 发表于 2013-2-23 19:31:11

去查WAT data啊，看是在TT/FF/SS

littlej · 发表于 2013-2-25 16:49:38

"目前仿真出现PLL在SSS100度的时候输出不稳定，不知道能不能放过去流片？"
如果你只是想验证功能，去流片影响不大；
如果要商业用，还是多看看吧

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