tetramax产生测试向量的问题，各位大牛帮帮忙

531472320 · 发表于 2012-8-16 18:33:05

回复 10# Syn2012

顶层的vabt端口可以直接控制SCAN_IN信号，设计上可以保证，先不管如何设计，现在就是要如何在spf中表示这些激励信号：
首先，rest先复位，vabt为1。
然后，vabt连续灌入16个低电平。
最后，vabt保持为0。
这样就可以得到一个测试模式信号。问题就是这些激励信号怎么在spf中描述出来呢？

Syn2012 · 发表于 2012-8-16 23:32:06

test_setup中好像有个force的吧，可以描述这个激励的吧。

lsqswl · 发表于 2012-8-17 10:48:30

add pi constraints

lsqswl · 发表于 2012-8-17 10:50:55

V {
"SCAN_IN" = 1;
}

在测试协议的最后test_setup部分 v{}里面，添上去就可以了。

Syn2012 · 发表于 2012-8-17 20:36:37

Add pi constraint 是否比较难描述这种不是很有规律的信号，还是在test_setup中用V基于clock来描述比较容易点。

531472320 · 发表于 2012-8-19 12:19:27

试了很久，最后在test_setup这样设置，定义3组测试周期
V {rest = P ; vabt=1;}
Loop 16 V { V{rest = 1; vabt=0;}
V{rest =1 ;vabt =1;}
}
V {vabt = 0;
scan_clock =0;
rest=1 ;
}
这样就可以了
感谢各位的回帖

531472320 · 发表于 2012-8-19 12:21:41

本帖最后由 531472320 于 2012-8-19 12:23 编辑

不知道还有没有其他的写法，这样大概3500ns之后进入测试状态，
要是在顶层直接有testmode信号的话，200ns就进入测试状态了

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